アプリケーションノート 半導体/電子材料

半導体/電子材料アプリケーションノート一覧

ICP-MS 関連 ICP-QQQ 関連 LC/MS 関連 MP-AES 関連 FTIR 関連 UV-Vis 関連 蛍光分光光度計 

●ICP-MS 関連

Publication no. タイトル 掲載年月
5991-8828JAJP ICP-MS によるナノ粒子分析 2018/05
5990-8175JAJP Agilent 7700s ICP-MS によるトリクロロシラン中の微量元素分析 2012/01
5989-1585JAJP 高スループット委託分析ラボでの金属分析手法と ICP-MS の相対コスト 2005/05
5989-9376JAJP 7500cx ICP-MS用 Agilent 高マトリクス導入キットによる、高純度パラタングステン酸アンモニウムに含まれる微量不純物 21 元素の測定 2009/04
5988-9529JAJP Agilent 7500cs ICP-MS によるシリコンウエハ中の微量金属不純物の分析 2006/03
5989-0629JAJP Agilent 7500cs ICP-MSによるフォトレジストおよびその溶媒の分析 2004/02
5988-8915JAJP レーザーアブレーションICP-MSによる電子セラミックスの分析 2003/08
TI 15F1D1-015 電子工業関連試料の分析-過酸化水素- 2000/12
TI 15F1D1-009 電子工業関連試料の分析-硝酸、フッ素- 2000/12
TI 15F1D1-008 電子工業関連試料の分析-硫酸- 2000/12
TI 15F1D1-007 電子工業関連試料の分析-TMAH- 2000/12
TI 15F1D1-005 半導体関連試料の分析-超高純度硝酸- 2000/12

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●ICP-QQQ 関連

Publication no. タイトル 掲載年月
5994-0987JAJP spICP-QQQ による半導体プロセス試薬の多元素ナノ粒子分析 2019/06
5994-0273JAJP Agilent 8900 ICP-QQQ によるイソプロピルアルコールの超微量元素の自動分析 2018/12
5991-7008JAJP MS/MS モードの Agilent 8900 ICP-QQQによる、超高純度の半導体グレードの硫酸に含まれる微量元素の測定 2016/07
5991-6852JAJP Agilent 8900 ICP-QQQ を用いた極微量濃度レベルのリン、 硫黄、ケイ素、塩素の分析 2016/06
5991-2819JAJP トリプル四重極 ICP-MS による半導体グレードの高純度硫酸中の検出困難な元素の測定 2015/04
5991-5372JAJP Agilent 8800 トリプル四重極 ICP-MS によるクールプラズマリアクションセルモードでの超純水中のカリウムおよびその他の元素の超微量分析 2015/03
5991-2466JAJP Agilent 8800 トリプル四重極 ICP-MS を用いた、ケイ素サンプル中のリンおよびチタンの検出下限の改善 2013/09
5991-2303JAJP Agilent 8800 トリプル四重極 ICP-MS を用いた、NMP 中の硫黄、リン、ケイ素、塩素の微量分析 2013/06
5991-1693JAJP Agilent 8800 トリプル四重極 ICP-MSを用いた、超純水中のカルシウムの超微量分析 2013/02
5991-0320JAJP Agilent 8800 トリプル四重極ICP-MS を用いた、20 % メタノール中のケイ素・リン・硫黄の分析 2012/10

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●LC/MS 関連

Publication no. タイトル 掲載年月
LCMS-201106SM-001 会員限定Agilent 6230 LC-TOF を用いた有機エレクトロルミネッセンス(EL)材料の分析 2011/06

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●MP-AES 関連

Publication no. タイトル 掲載年月
5991-6021JAJP 外部ガス制御モジュール搭載の Agilent 4200 MP-AES によるイソプロピルアルコール中の微量元素の測定 2015/10

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●FTIR 関連

Publication no. タイトル 掲載年月
5991-5224JAJP FTIR 顕微 ATR イメージングによる合成ポリマーおよび合成ゴムに含まれる異物の同定 2015/01
5991-5223JAJP フーリエ変換赤外分光光度計を用いた顕微 ATR イメージングによるダメージフリーの不良/異物分析 2015/01
SI-02288JAJP 会員限定Agilent Cary 610 赤外顕微鏡の優位性 2013/09
5990-9878JAJP ハンドヘルド型 FT-IR Agilent 4100 ExoScan を用いた O リング、シール材およびガスケットの迅速な同定 2013/05
ftir125JAJP 会員限定イメージング – 概要と測定原理 2013/03
5990-8526JAJP 【技術概要】 アプリケーションに応じて選択できるアタッチメントを備えたAgilent Cary 630 FTIR 2011/09

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●UV-Vis 関連

Publication no. タイトル 掲載年月
ftir125JAJP 会員限定イメージング – 概要と測定原理 2013/03

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●蛍光分光光度計

Publication no. タイトル 掲載年月
SI-A-1221JAJP Agilent Cary 5000 UV-Vis-NIR分光光度計と外部拡散反射アクセサリDRA-2500 を用いた太陽電池の光学特性の測定 2013/03

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