パイロライザ GC/MS 分析における Self-Cleaning イオン源の検証

Pub.No. GC-MS-201510NK-002

パイロライザ GC/MS 分析における Self-Cleaning イオン源の検証

Self-Cleaning イオン源は、測定中に水素を導入し継続的にクリーニングを行うため、イオン源表面を常にクリーンな状態に保つことができ、その結果、測定の安定性が改善することが報告されています。今回は、イオン源に水素を導入することによる化合物の還元によるマススペクトルの変化の有無などを検証しました。Self-Cleaning 環境下での測定は、それを使用しない場合とほぼ同等の結果が得られました。

分野 一般化学(スペシャリティケミカル)材料試験・研究
キーワード Self-Cleaning 、ポリ塩化ビニル(PVC)、低密度ポリエチレン(LDPE)、パイロライザ、GC/MS 
掲載年月 2015/10
ページ数 3ページ (PDFファイルサイズ 895kB)

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使用分析装置

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Agilent 5977A シリーズ GC/MSD

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分析結果の一例

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Self-Cleaning の有無による熱脱着法によって
得られた TICC