半導体製造で使用される化学物質の不純物を測定したり、シリコンウエハや最終製品に含まれる不純物を測定する場合、アジレントは、必要な要件を満たすために最も感度が高く、信頼性が高く、堅牢な分析方法を提供できます。 アジレントの分析機器は、表面金属抽出(SME)によるシリコンウエハ、太陽光 PV シリコン、高純度プロセス化学物質、超純水、有機溶媒、フォトレジストなど、半導体業界のさまざまなサンプルの微量元素分析において最高のパフォーマンスを提供します。 さらに、アジレントは最高レベルの生産性を維持するために、ワールドクラスのアプリケーションとサービスサポートを提供します。