第75回　分析化学討論会　出展/ランチョンセミナー情報

　　　　　　　　　　　　　　　　　

　開催概要
 
会　期　　： ２０１４年　５月２３日（土）～２４日（日）　９：００～１７：００（最終日は１５：００まで）
会　場　　： 山梨大学　甲府キャンパス　　〒４００−８５１０　甲府市武田４-４-３７

アジレント ランチョン セミナー　：

５月２３日（土）　１２：１０～１３：００　　会場：甲府キャンパス：総合研究棟　　⇒詳細
展　示　製　品（予定）　： Agilent 5100 ICP-OES、Agilent 4200 MP-AES マイクロ波プラズマ原子発光分光光度計　　⇒詳細
学　会　HP　： http://conference.wdc-jp.com/jsac/touron/75/display.html

 

　ランチョンセミナー
 

日時　：　５月２３日（土）　１２：１０～１３：００
会場　：　甲府キャンパス：総合研究棟

【演題１】　デュアルビュー同時測定を実現した Agilent 5100 ICP-OES による
　　　　　　食品をはじめ様々なアプリケーション例のご紹介

【演　者】　アジレント・テクノロジー株式会社　梅田　裕士

　新製品 Agilent 5100 ICP-OES はデュアルビュー同時測定を実現することにより迅速に測定が行えます。
　また垂直配置型トーチによりマトリックス耐性に優れた分析性能を実現します。
　本セミナーでは、Agilent 5100 ICP-OES の概要と、食品や他の様々なアプリケーション測定例をご紹介いたします。

 

　展示製品
 

デュアルビューを同時に測定
Agilent 5100 ICP-OES
独自のダイクロイックスペクトルコンバイナ技術
(DSC) により、プラズマのアキシャルビューと
ラディアルビューを 1 回で測定

窒素による安全な分析
Agilent 4200 MP-AES
ランニングコストを抑制し、
より幅広いサンプルの分析に対応

 

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