半導体およびエレクトロニクスのあらゆる不純物試験をサポート

半導体は現代のエレクトロニクスの中核的存在であり、スマートフォンから自動車まで、あらゆる製品で使用されています。半導体業界の進化に伴い、デバイスはよりスマートに、より高速になり、信頼性と性能も向上しています。その一方、部品がシングルナノメートルスケールに小型化したことで、汚染物質や不純物を抑制することがこれまで以上に重要になっています。ごく微量の汚染物質が混入しただけでも、製造歩留まりが低下し、製品の信頼性の問題を招いたり、製品故障につながる可能性があるからです。こういった状況を防ぐため、ウエハ、原料、およびプロセス薬品の試験から最終製品の QA/QC まで、半導体およびエレクトロニクスの製造プロセスを通して段階ごとに、あらゆるものに対して不純物分析を実行する必要があります。アジレントでは、半導体の不純物試験に必要な分析機器、ソフトウェア、サービス、およびサポートを提供しています。これらのソリューションにより、無機不純物、粒子、有機不純物を確実に測定し、環境・健康・安全規制へのコンプライアンスを確保することができます。

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半導体試験・エレクトロニクス試験アプリケーション

半導体の無機不純物

ウエハ、スパッタリングターゲット、プロセス薬品、フォトレジスト、エレクトロニックガス中の微量および超微量金属汚染物質をモニタリングし、管理できます。

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半導体の有機不純物

微量有機不純物の分析もアジレントがサポートします。幅広いアプリケーションに対応できる業界最高レベルの機器を取り揃えています。

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半導体の粒子分析

バルクケミカルやウエハ処理槽および洗浄槽中の金属ナノ粒子(NP)と溶解金属をモニタリングできるソリューションがあります。

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材料に関する環境・健康・安全規制へのコンプライアンス

半導体およびエレクトロニクス業界に向けたアジレントの環境・健康・安全(EHS)試験技術により、EHS 規制へのコンプライアンスを確保することができます。

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フォトニクス/オプトエレクトロニクスデバイスおよび部品の分析

Agilent UV-Vis および UV-Vis-NIR 分光光度計では、フォトニックデバイスやフォトニック部品を対象としたあらゆるフォトニクス試験および測定ソリューションが提供されます。

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半導体・エレクトロニクスの真空およびリーク検出

アジレントの真空ポンプおよび真空ゲージと、堅牢で使いやすい高精度のリーク検出器があれば、時間とコストを節約できます。 

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材料試験・材料研究アプリケーションなら、アジレントにお任せください

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