【演 題】 アジレントが展開する 2つのキーテクノロジー
【演 者】 アジレント・テクノロジー株式会社 福田宏之
アジレント・テクノロジー株式会社 行成雅一
アジレントが推し進める、今後の質量分析をリードする、2つのキーテクノロジーについてご紹介します。
■Ion Mobility Technology for LC/MS. Agilent 6560 IM QTOF
High Ion Mobility sensitivity / High Ion Mobility Resolution
LC/MS からは、イオンモビリティ―を搭載した Agilent 6560 IM QTOF についてご紹介
します。本システムは、高性能イオンモビリティ測定と、きわめて精密かつ正確な衝突断
面積(CCS またはW) 測定を可能にします。サンプルの種類に左右されるキャリブレー
ション標準を使用する必要はありません。アジレントのモビリティ装置は均一な低電場
条件で動作するため、イオンのドリフト時間データを衝突断面積データに直接変換する
ことが可能です。この機器に導入された革新的なイオンファンネル技術により、質量分析
計へのイオンサンプリング効率が劇的に向上し、微量レベルの MS/MS スペクトル品質を
高めることができます。
■新製品 Agilent 7900 ICP-MS および Agilent 8800 ICP-QQQ の紹介
ICP-MS からは、シングル四重極 ICP-MS (Agilent 7900 ICP-MS)、およびトリプル
四重極 ICP-MS (Agilent 8800 ICP-QQQ) をご紹介します。新製品の Agilent 7900
ICP-MS は、マトリックス耐性、S/N比、ダイナミックレンジがさらに一桁向上した装置
となっており、既存の ICP-MS をはるかに超える性能をご紹介します。Agilent 8800
ICP-QQQ ではリン (P) や硫黄 (S) などの微量分析をはじめ、MS/MS の構成により干渉
除去性能が画期的に向上したアプリケーション例についてご紹介します。
