ウェビナー
日程 | 2022 年 4 月 19 日(火) |
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時間 | 12:45 配信開始 13:00-15:50 セミナー ※ 詳細は下記の各日のプログラムをご覧ください。 |
参加対象 |
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参加費 | 無料 |
開催方法 | ブラウザを利用したオンラインセミナー(ウェビナー、使用ツール:ON24) |
オンデマンド視聴はこちら ※ご視聴の際、ブラウザは最新版にされることを推奨しております。 |
13:00 - 13:20 |
半導体分析に必要なクリーンルームの基礎半導体材料に要求される極微量分析の実現のため、分析装置以外の重要な要素の一つであるクリーンルームについて、基礎的な内容を説明します。
講師:アジレント・テクノロジー プロダクトスペシャリスト 嶋田 翔太 |
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13:20 - 14:20 |
UV 硬化樹脂の組成分析のポイント、および低濃度不純物混入時の管理に役立つソリューション多種の化合物から構成されるため解析の難しい UV 硬化樹脂の GC/MS、LC/MS を使った分析のポイントやクリーンルーム中の SVOC 分析、半導体材料中の低濃度不純物分析について説明します。
講師:アジレント・テクノロジー 技術営業部 橋北 直人質疑応答 |
14:20 - 14:30 |
休憩 |
14:30 - 14:50 |
半導体ウエハ測定 UV-VIS-NIR のご紹介多角度可変自動測定分光光度計とオートサンプラによる、大口径サンプルの UV-Vis および NIR スペクトル範囲における、自動化された絶対反射率および透過率の測定についてご紹介します。
講師:アジレント・テクノロジー プロダクトスペシャリスト 三井 健嗣 |
14:50 - 15:50 |
Single particle ICP-MS の基礎から最新情報本法の原理を基礎から総復習。実際の応用例と最新情報をご紹介します。また特に多いお問い合わせ「ICP-MS で検出したパーティクルの信号強度を粒径 [ nm ] へ換算する過程」について詳細に解説します。
講師:アジレント・テクノロジー ICP-MS アプリケーションエンジニア 島村 佳典質疑応答 |
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