検出可能な最小粒子サイズに関する Agilent 8700 LDIRの測定モードの評価

Pub.No. 5994-8677JAJP

LDIR によるマイクロプラスチックの特性解析の最適化：自動ワークフローと手動ワークフロー

Agilent Clarityコントロールソフトウェアを搭載したAgilent 8700 LDIRケミカルイメージングシステムには、幅広いマトリックスから単離したマイクロプラスチックを特性解析できる自動および手動ワークフローが用意されています。粒子分析ワークフローはルーチン試験用に設計されており、デフォルトサイズ範囲20～500 μm内の粒子の高速全自動特性解析が可能です。この範囲は、ユーザーが用いる手法や分析要件に応じて調整できます。ソフトウェアで基板上に目的領域が定義され、スペクトルライブラリが選択されると、8700 LDIRは自動的に粒子を検出し、赤外（IR）スペクトルを採取し、そのスペクトルをライブラリと照合して、結果をリアルタイムに更新します。一方、手動分析ワークフローでは、ユーザーがパラメータを調整してスペクトルを採取し、数マイクロメートルの微粒子の高倍率イメージを収集できるため、メソッド開発および研究アプリケーションの柔軟性が高まります。この技術概要では、粒径2、5、および10 μmのNISTトレース可能ポリスチレン（PS）ラテックスビーズを使用して、両タイプのワークフローの性能を評価します。測定はLow-Eスライドとアルミニウムコーティング（Alコーティング）フィルタ（ポアサイズ0.8 μm）の両方で実行し、測定可能な最小粒子サイズに対する基板バックグラウンドの影響を評価しました。

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