ICP-OES分析の生産性向上のために

詰まりの解消によって
ICP-OES の生産性が向上

ICP-OES 機器の詰まりの防止と最小化

サンプルの詰まりは分析に大きく影響する可能性があります。詰まりの特定、場所の確認、除去に手間がかかることは言うまでもありません。ネブライザが詰まるとエアロゾルが制限され、ICP-OES の性能に影響が及ぶことがあります。この結果、感度、真度、精度が低下し、ワークフローが途中で停止してしまう可能性があります。

ネブライザの詰まりを効率的に除去するには、Agilent ネブライザクリーナ (p/n G3266-80020) の使用を推奨します。アジレントは、ある程度のネブライザの詰まりは不可避であることを理解しています。そこで、技術概要 ICP-OES ネブライザの詰まりの簡単な除去手順を作成しました。

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2019 年 5 月 31 日までです。

利用規約が適用されます。

詰まりによる ICP-OES のダウンタイムを短縮する 2 つの手順

ろ過を省くことで分析時間は短縮されるでしょうか。
もう一度検討してみましょう。

サンプルろ過の手順を省くことは、短期的に見れば分析時間の短縮に効果があるように思われるかもしれません。しかし、サンプル取り込みチューブ、ネブライザ、インジェクタ内に大きな粒子が詰まると、長時間のダウンタイムの原因となる可能性があります。

Agilent Captiva プレミアムシリンジフィルタは、幅広いサイズ、材質、膜に対応しています。これらのフィルタは業界最高クラスの流量と保持容量を備えており、高速なろ過処理が可能です。

4 つの簡単な手順を実行すれば、ろ過の利点を十分に活用できます。

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アプリケーションに最適なネブライザを選択しましょう

性能や特徴はネブライザごとに異なり、すべてのアプリケーションに互換性のあるネブライザは今のところありません。

アプリケーションに適した ICP-OES ネブライザを使用すれば、最適な性能を実現し、詰まりや予定外のダウンタイムのリスクを軽減することができます。スペアのネブライザを必ず 1 個以上用意してください。これで、ネブライザの詰まりが発生しても、交換することですぐにサンプル分析を続行できます。

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