調査結果* から、ラボで再測定される ICP-OES サンプルは平均して全体の 15 % にのぼることが判明しました。興味深いことに、15 % 以上のラボは、サンプルの再測定率を把握しておらず、無駄になっている時間やそれにかかっているコストをまったく認識していませんでした。

機器のメンテナンスとダウンタイムも、時間の無駄につながる大きな要因です。ICP-OES に関するアジレントへのサービスコールの 30 %† は、どこに問題があるのか、どうすれば解決できるのかをわかってさえいれば、自社内で解決できた問題だと判明しました。

* 2019 年に 200 以上のラボを対象に実施したオンライン調査の結果。† 2017 年 11 月～2018 年 10 月のアジレントのサービスデータ。

Agilent 5800 および 5900 ICP-OES は、時間の無駄につながる主な要因を最小限に抑えるシステムです。

このビデオでは、ICP-OES 分析に時間がかかる要因を減らし、結果の信頼性を高める新しい Agilent ICP-OES システムの特長をご覧いただけます。

複雑な高マトリックスサンプルの分析では、正確な結果が得られる最適なメソッドを開発することが大きな課題となります。

このアプリケーション概要では、5800 および 5900 に搭載されているサンプルスクリーニング機能「IntelliQuant スクリーニング」の活用例をご覧いただけます。この機能により、スペクトル干渉を排除し、各目的元素に最適な波長を選択することができました。

産業廃棄物サンプルの分析は容易ではありません。

メソッドを最適化して干渉を排除し、分析結果が信頼できるものかどうかを確認し、機器の性能を最適な状態に維持する必要があります。

このアプリケーション概要では、Agilent 5800 および 5900 のスマートツールがこれらの作業にいかに役立つかをご覧いただけます。

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