※ 5975C GC/MSDは、販売を終了いたしました。
業界のリーダーとしての確固たる信頼性、高性能、テクノロジーを基盤とし、最新のAgilent 5975C シリーズMSDは分析パフォーマンスをさらに向上させ、ラボの生産性は新たなレベルへ到達します。
双曲面を有し、クォーツ製一体成型の金メッキ四重極がもたらす究極のパフォーマンス
Agilent 5975C MSD が搭載している四重極は、優れたMSパフォーマンスと最高の信頼性をもたらします。双曲面をもつクォーツ製の一体構造は、理想的な電場を作り出し、優れた分解能とマス軸安定性をもたらします。この優れたデザインは温度変化の影響を受けにくいだけでなく、高沸点化合物の測定時に有効な四重極自体の加熱をも可能にしました。
四重極から、トリプルアクシス（X-Y-Zの3軸）方向にオフセット配置されたHED-EM。この革新的なデザイン変更が、イオンの捕捉を最大化（シグナルを増大）し、ニュートラルノイズを減少させます。また、新しいトリプルチャネルEMが搭載され、シグナルの増幅を達成し、同時に超寿命化も実現しました。
アジレントの新しいゲインノーマライズチューニングは、EMのイオン電流、直線性とその平均寿命を最適なバランスで調整、運用することを可能にします。さらに、ゲインノーマライズがもたらすものは、使い込んだものと新品EMとの間での感度安定化、異なるGC/MSDシステム間でのイオンカウントの一定化です。
不活性素材で作られ、350˚Cまで加熱可能となったinertイオン源
アジレント独自の inert イオン源が350˚C まで温度設定可能となり、農薬のような活性化合物や難燃剤のような高沸点化合物のレスポンスを向上させます。
複雑なサンプルマトリクスにおける真のパフォーマンス向上を可能にしたトレースイオン検出
革新的なトレースイオン検出技術により、メソッドの最小検出限界（MDL）および定量限界（LOQ）をさらに向上させることが可能となります。トレースレベルでの分析において同定ミスの危険性を低減し、inert イオン源のパフォーマンスをさらに引き出します。
高性能選択イオンモニタリング（SIM）とフルスキャン
アジレントの SIM/Scan 同時取込機能では、SIM データとフルスキャンデータを1回の分析で同時取込できます。 SIM デュエルタイムの設定は 1msec ステップで、100 msec 程度の長い設定から 1 msec 程度の短い設定まで幅広く可能です。
強力なGC/MSソフトウエア
アジレント MSD プロダクティビティー ケミステーション ソフトウェア ソフトウエア は、オペレータレベルから研究者レベルまでのあらゆるユーザーがAgilent 5975C GC/MSDのハイパフォーマンスを引き出す支援をします。
信頼性やメンテナンス性の向上
モジュラーデザインのアナライザなので、フィラメント、イオン源、マスアナライザ、エレクトロンマルチプライヤまで、日常のメンテナンスが必要な部分全てに簡単にアクセス可能。
前面のガラスウインドウにより、簡単にイオン源の判別ができ、各コネクタの接続確認も容易です。
高い信頼性を誇る真空システムを採用し、最大限の長期安定性を追求しました。ターボポンプ仕様ではオイルフリーポンプシステムもオプションにて選択可能で、ポンプメンテナンスおよび騒音を低減できます。アンモニアのようなCIガスでも使用可能です。
5975C のフルラインナップ：
