Agilent 7700 シリーズ ORS3 を使用したICP-MS のスペクトル干渉の除去(図2)

図 2 の拡大図

7700x で He、H2、およびノーガスモードで測定された、一連のマトリクスによる干渉イオンによる見かけの Cr 濃度。

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