汚染のコントロール

汚染のコントロール - クリーンな分析

超微量元素や微量元素の分析の成否は、クリーンなサンプルの取り扱いと、分析に使用する装置の精度にかかっています。分析中の汚染源としては、多くのものが考えられます。たとえば、使用する試薬の純度、サンプル前処理方法（装置と周囲環境を含む）、サンプル間の相互汚染などです。これらの点について、優れた方法を導入しないと、得られるデータの品質に直接的な効果を与えかねません。たとえば、ブランクが多少なりとも汚染されていると、サンプル測定の精度に直ちに影響します。分析ブランクのコントロールの不備は、誤差の主な原因となり、超微量分析の結果を制限する要因にもなります。

分析データの品質に決定的な影響を与える外部要因は、多数あります。以下の要因は、現在の技術では、十分にコントロールできるものです。

これらの要因は、それぞれ何らかの形で分析ブランクに関連しています。

Agilent Technologies Semiconductor Laboratory Startup & Contamination Control Guide
この8ページのガイドは、半導体関連のマトリックスに含まれる超微量元素や微量元素の分析にICP-MSを使用するすべての人にとって有益なヒントとコツを満載しています。このガイドは、この分野で長年の経験を持つAgilentのアプリケーションエンジニアが執筆し、サンプル前処理の環境、純水、高純度試薬、サンプル取り扱い中の汚染のコントロール、検量線作成用の標準液、器具の洗浄手順などについて記載されています。