アプリケーションノート : ICP-QQQ、ICP-MS 関連

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■ 8900/8800   ■ 7900/7800/7700   ■ 旧モデル


■ Agilent 8900/8800 トリプル四重極 ICP-MS アプリケーションノート

更新日 : 2016/7/25

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Publication no. タイトル 分野
掲載年月
5991-7008JAJP MS/MS モードの Agilent 8900 ICP-QQQによる、超高純度の半導体グレードの硫酸に含まれる微量元素の測定 半導体/電子材料
2016/7
5991-6944JAJP Agilent 8900 ICP-QQQ による10 nm 金ナノ粒子の分析 金属、鉱業
2016/7
5991-6852JAJP Agilent 8900 ICP-QQQ を用いた極微量濃度レベルのリン、 硫黄、ケイ素、塩素の分析 半導体/電子材料
2016/6
5991-6553JAJP ICP-QQQ を用いた UO2+ プロダクトイオン測定による、ウラン水素化物イオン干渉の軽減とトレース 236U の同位体比分析 環境
2016/6
5991-6596JAJP Agilent 8900 ICP-QQQ による MS/MSモードでの SiO2 ナノ粒子の高感度分析 環境
食品/香料 
材料試験・研究
2016/6
5991-6118JAJP 同位体希釈法トリプル四重極 ICP-MS によるタンパク質および抗体の高速かつ正確な絶対定量 プロテオミクス
製薬
2016/3
5991-6260JAJP GC-ICP-QQQ によるリンおよび硫黄検出を使用した食品中の農薬の検出 食品/香料 
環境
2016/2
5991-5860JAJP 食品中のヒ素およびセレンの高精度・高感度分析:Agilent 8800 トリプル四重極 ICP-QQQ による二価REE 干渉物の除去 食品/香料
2015/12
5991-5445JAJP ヘテロ原子を元素標識として使用した HPLC-ICP-QQQ による医薬品有効成分の定量分析 製薬
2015/5
5991-2819JAJP トリプル四重極 ICP-MS による半導体グレードの高純度硫酸中の検出困難な元素の測定 半導体/電子材料
2015/4
5991-5372JAJP Agilent 8800 トリプル四重極 ICP-MS によるクールプラズマリアクションセルモードでの超純水中のカリウムおよびその他の元素の超微量分析 半導体/電子材料
2014/5
5991-5400JAJP Agilent 8800 トリプル四重極 ICP-MS による高純度 Nd2O3 中の微量希土類元素のルーチン分析 金属、鉱業
材料試験・研究
2014/5
5991-2750JAJP トリプル四重極 ICP-MS を用いたラット血清中のセレノプロテインの分析 プロテオミクス
2014/5
5991-2466JAJP Agilent 8800 トリプル四重極 ICP-MS を用いた、ケイ素サンプル中のリンおよびチタンの検出下限の改善 半導体/電子材料
2013/9
5991-2337JAJP 同位体希釈法トリプル四重極 ICP-MS(ID-ICP-MS) を用いたバイオディーゼル中の硫黄の精密定量 石油/エネルギー
2013/9
5991-2303JAJP Agilent 8800 トリプル四重極 ICP-MS を用いた、NMP 中の硫黄、リン、ケイ素、塩素の微量分析 半導体/電子材料
2013/6
5991-1461JAJP キャピラリーLC-ICP-MS と Agilent 8800 トリプル四重極 ICP-MS を用いたペプチドとホスホペプチドの同時定量 プロテオミクス
2013/2
5991-1693JAJP Agilent 8800 トリプル四重極 ICP-MSを用いた超純水中のカルシウムの超微量分析 半導体/電子材料
2013/2
5991-0622JAJP Agilent 8800 トリプル四重極 ICP-MS を用いた HPLC-ICP-MS による、リンゴジュース中のヒ素のスペシエーション分析 食品/香料
2012/10
5991-0892JAJP Agilent 8800 トリプル四重極 ICP-MS の MS/MS モードを用いた高純度希土類酸化物存在下での希土類元素 (REE) の直接分析 材料試験・研究 
金属、鉱業
2012/10
5991-0321JAJP Agilent 8800 トリプル四重極 ICP-MS の MS/MS モードを用いたヨウ素 129 の微量分析 石油/エネルギー
2012/10
5991-0320JAJP Agilent 8800 トリプル四重極 ICP-MS を用いた、20 % メタノール中のケイ素・リン・硫黄の分析 半導体/電子材料
石油/エネルギー
2012/10

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■Agilent 7900/7700 ICP-MS アプリケーションノート

更新日 : 2017/8/9

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Publication no. タイトル 分野
掲載年月
5991-6111JAJP ぶどう畑の場所およびワイナリーが赤ワインの元素プロファイルに与える影響  食品/香料
2017/8
5991-0107JAJP ICP-MS による食品サンプル分析の生産性の向上 食品/香料
2017/8
5991-6185JAJP Agilent 7900 ICP-MS による原乳および粉乳の高スループットルーチン多元素分析 食品/香料
環境
2016/2
5991-5933JAJP HPLC-ICP-MS による精米中のヒ素種 5 種の高速測定 食品/香料
2016/1
5991-6055JAJP 水素化物発生装置と ICP-MS による米中の無機ヒ素のハイスループット測定 食品/香料
2015/12
5991-5865JAJP ICP-MS による栄養製品中のクロム、セレン、モリブデンの測定 食品/香料
環境 
2015/7
5991-5891JAJP
memberonly Agilent 7900 ICP-MS と単一ナノ粒子アプリケーションモジュールによる単一ナノ粒子の自動高感度分析
材料試験・研究 
環境
2015/6
5990-9382JAJP 元素不純物に関する新たな USP メソッド および 案 :医薬品分析における ICP-MS の適用 製薬
2015/4
5991-5516JAJP ICP-MS を使用した水溶性サンプル中ナノ粒子の特性解析 材料試験・研究
2014/8
5991-4401JAJP Agilent 7900 ICP-MS によるナノ材料の単一粒子分析 材料試験・研究 
環境
2015/1
5991-4556JAJP 自動メソッド作成機能を備えた Agilent 7900 ICP-MS の食品中ルーチン微量金属元素分析への応用 食品/香料
2014/8
5991-2568JAJP HPLC-ICP-MS を用いた乳幼児向け米シリアル中無機ヒ素のスペシエーション分析 食品/香料
2014/4
5991-3264JAJP ICP-MS を用いた炭化水素燃料中の微量金属不純物の分析 石油/エネルギー
2014/2
5991-3263JAJP ICP-MS を用いた潤滑油中無機不純物の分析 石油/エネルギー
2014/2
5991-2570JAJP ICP-MS と MS用多変量解析ソフトウェアを利用した、貯蔵温度および容器に起因するワイン中微量金属成分の分析 食品/香料
2013/10
5991-2878JAJP LC-ICP-MS を用いた、欧州安全性規格・玩具 EN71-3 分析に準拠するための玩具中の 3 価および 6 価クロムの分析 一般化学
材料試験・研究
2013/10
5991-0882JAJP キャピラリ HPLC-ICP-MS による、セレン化酵母中のセレン含有タンパク質の同定 食品/香料
2013/1
5991-0066JAJP HPLC-ICP-MS 法による食品中の水銀のスペシエーション 食品/香料 
環境
2013/1
5990-9971JAJP Agilent 7700x ICP-MS オクタポールリアクションシステムを用いた蒸留酒中の微量金属分析 食品/香料
2012/8
5990-9366JAJP LC(IC)-ICP-MS を用いた Cr(III) とCr(VI) のスペシエーション分析 環境
2012/8
5990-9382JAJP 元素不純物に関する新たな USP メソッド および 案 :医薬品分析における ICP-MS の適用 製薬
2012/1
5990-9365JAJP USP ジェネラルチャプター/ 草案に従った医薬品成分中の元素不純物測定における Agilent 7700x/7800 ICP-MS のバリデーション (2015/7 update) 製薬
2012/1
5990-8171JAJP 酸素リアクションモードを用いた7700x ICP-MS による水溶液サンプル中ヨウ素 129 の超微量分析 石油/エネルギー
2012/1
5990-8175JAJP Agilent 7700s ICP-MS によるトリクロロシラン中の微量元素分析 半導体/電子材料
2012/1
5990-4539JAJP Agilent 7700x ICP-MS による食品中微量金属の簡便かつ高速一斉分析 食品/香料
2010/6
5990-4315JAJP 飲料水分析におけるAgilent 7700x/7800 ICP-MS の優位性 (2015/7 update) 環境
食品/香料
2009/12

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■旧モデルのアプリケーションノート

Publication no. タイトル 分野
掲載年月
5989-9888JAJP オクタポールリアクションシステム搭載 7500cx ICP-MS による食用油中微量金属の直接測定 食品/香料
2009/7
5989-9443JAJP ヘリウムコリジョンモードの Agilent 7500ce ICP-MS を用いた抗ウィルス薬の半定量分析 製薬
2009/4
5989-9376JAJP 7500cx ICP-MS用 Agilent 高マトリクス導入キットによる、高純度パラタングステン酸アンモニウムに含まれる微量不純物21 元素の測定 半導体/電子材料
2009/4
5989-8095JAJP 高マトリクス導入アクセサリを搭載した Agilent 7500cx ICP-MS による高純度金属の分析 環境
一般化学
2008/10
5989-8543JAJP (pdf) マトリクス効果を軽減するためのインテグレートセカンドペリスタルティックポンプ (技術概要) -
2008/9
5989-7959JAJP コリジョン/リアクションセル ICP-MS による栄養補助食品中の重金属の多元素測定 食品/香料
2008/9
5989-7429JAJP コリジョン/リアクションセル ICP-MSによる同位体希釈法を用いた血清サンプル中の Zn、Cu、Se の分析 製薬
2008/8
5989-7297JAJP Agilent 7500cx ICP-MS を用いた高マトリクス環境サンプルの高速分析 環境
2008/5
5989-7214JAJP 7500cx ICP-MS によるモルト蒸留酒飲料 (ウイスキー) 中の微量元素の測定 食品/香料
2008/5
5989-7737JAJP (pdf) Agilent 7500シリーズICP-MS用アクセサリ高マトリクス導入キットの特長 (製品概要) -
2008/4
5989-7073JAJP HPLC-ICP-MS を用いた有機と無機セレン種の測定 環境
2008/3
5989-5603JAJP GC-ICP-MS によるポリ臭素化ジフェニルエーテル (PBDEs) の分析 環境
一般化学
2006/12
5989-4905JAJP Agilent オクタポールリアクションシステムとヘリウムコリジョンモードを使用した ICP-MS でのスペクトル干渉の一斉除去 一般化学
2006/8
5989-4147JAJP 7500ce ORS ICP-MS によるガソリンに含まれる元素の直接測定 石油/エネルギー
2006/5
5989-3254JAJP ニッケル合金の生産管理に使用するレーザアブレーション(LA)-ICP-MS 一般化学
2006/3
5988-9529JAJP Agilent 7500cs ICP-MS によるシリコンウエハ中の微量金属不純物の分析 半導体/電子材料
2006/3
5989-3574JAJP RoHS/ELV 指令のための ICP-MS による重金属の測定 環境
一般化学
2005/8
5989-2885JAJP コリジョン/リアクションセルICP-MS を使用した血中および血清サンプル中の18 元素同時定量 製薬
2005/8
5989-2482JAJP オクタポールリアクションセルICP-MS による迅速で信頼性の高い尿のルーチン分析 製薬
2005/8
5989-2570JAJP 漢方薬の分析に対する従来型ICP-MS とORS-ICP-MS の有効性の評価 製薬
2005/7
5989-0629JAJP 7500cs ICP-MSによるフォトレジストおよびその溶媒の分析 半導体/電子材料
2005/7
5989-2481JAJP イオンクロマトグラフィー(IC)ICP-MSによる環境試料中のクロムのスペシエーション分析 環境
2005/6
5989-1585JAJP 高スループット委託分析ラボでの金属分析手法とICP-MSの相対コスト 環境
半導体/電子材料
2005/5
5989-0816JAJP イオンクロマトグラフ/質量分析計を用いた過塩素酸分析 環境
2004/8
5988-8915JAJP レーザーアブレーションICP-MSによる電子セラミックスの分析 一般化学
半導体/電子材料
2003/8
5988-6628JAJP インテグレート試料導入装置を搭載したAgilent 7500c ICP-MS による環境分析 環境
2002/8
TI 15F1D2-005 高塩濃度試料の導入 環境
2000/12
TI 15F1D2-003 (pdf) 酸化物イオン生成におけるスプレーチェンバ温度の影響 -
2000/12
TI 15F1D2-002 (pdf) ICP-MSによる高濃度CI中のAsの分析 -
2000/12
TI 15F1D1-017 フローインジェクション-ICP-MSを用いた高純度鉄中の微量元素の分析- 一般化学
2000/12
TI 15F1D1-015 電子工業関連試料の分析-過酸化水素- 一般化学
半導体/電子材料
2000/12
TI 15F1D1-014 PPQレベルのNpの分析 環境
2000/12
TI 15F1D1-013 ウランマトリックス中のテクネチイウムの分析 一般化学
2000/12
TI 15F1D1-012 生体試料の分析-頭髪- 環境
製薬
2000/12
TI 15F1D1-011 レーザアブレーションICP-MSによるガラスの半定量分析 一般化学
2000/12
TI 15F1D1-010 ICP-MSによるウラン(U)の同位体比測定および検出限界 一般化学
2000/12
TI 15F1D1-009 電子工業関連試料の分析-硝酸、フッ素- 半導体/電子材料
2000/12
TI 15F1D1-008 電子工業関連試料の分析-硫酸- 半導体/電子材料
2000/12
TI 15F1D1-007 電子工業関連試料の分析-TMAH- 半導体/電子材料
2000/12
TI 15F1D1-006 環境試料の分析-河川水- 環境
2000/12
TI 15F1D1-005 半導体関連試料の分析-超高純度硝酸- 半導体/電子材料
2000/12
TI 15F1D1-004 環境試料の分析-上水- 環境
2000/12
TI 15F1D1-003 EPA6020(CLP-M Ver.8.1)を用いた環境サンプルへの適応性の検討 環境
2000/12
TI 15F1D1-002 MSによる環境試料の分析(2)-土壌- 環境
2000/12
TI 15F1D1-001 ICP-MSによる環境資料の分析(1)-湖底質- 環境
2000/12

 

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